電子・半導体デバイスの生産工場における評価・検査向けDCテストの基礎技術

演習問題などの参考として通信インターフェースのデバグの実践例を掲載しておきます。

問題例：
あなたは設計からデバイスの評価を依頼されています。受け取った物は右に列記してあります。
製品評価の内容は通信デバイスのパルスマスクの品質確認を行うことです。期間は１ヶ月ですが、デバイス設計担当の開発者とはいつでもコンタクトできます。
　期間が１ヶ月であることから、実験ボードの回路をそのまま標準DIBに移植することで、試作グループに作成依頼しました。同時にテストプログラムの開発・コーディングにかかりました。
　１週間後、試作DIBが上がり、テストプログラムのコーディングも終わりました。テスタの予約もぬかりありません。
　DIBの誤配線チェックは終わり、プログラムをロードしてソケット上でテスト設定の確認も終えました。電源とグランドを再度チェックして、予備のデバイスをソケットに投入して様子を見ます。接続やリークに異常はなく消費電力も正常な範囲です。パルスマスクのテストでトラップして動作モードのレジスタの設定を確認し、フレーミング動作とドライバからの出力信号波形を期待しましたが、出力が０になったままでフレーム信号は出てきません。
　この状態で動作をさせるための次の一手を考えてください。