電子・半導体デバイスの生産工場における評価・検査向けACテストの基礎技術
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ATEによる側定応用例２
創作幸房：半導体デバイスの評価・量産テスト向けの自動検査装置の構成
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RF変調波形のEVM評価法
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ATEによる側定応用例２
演算によるEVM測定（ATEの送信側校正）例
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RFパワーアンプの伝達関数の測定例
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RFパワーアンプの伝達関数の測定例
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RFのCAEによるモデルと変復調方式のテスト比較
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ローエンドテストの要求
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波形の比較を定義
デシベルの定義
ゲイン
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ゲイン測定
低レベル入力のゲイン測定
周波数特性測定（入力固定）
周波数特性測定（出力固定）
S/N比測定
S/N比測定（聴感補正）
歪率測定（全高調波：周波数選択）
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混変調歪測定（CCIF法）
クロストーク測定
テストパッケージの問題解決のワークショップ参考例
通信インターフェースのデバグの実践例
デバイスのハイレベルの回路ブロックダイアグラム（仮想）
オペアンプの基本構成
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シーケンスDC測定の基本動作と構成
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組み込みメモリテスト
アルゴリズミックパターン例
テスタ構成例
失敗を重ねないために
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右脳を活用するとは？
テストパッケージの開発に応用
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